E+H雷達物位計 - 應用介質
智能雷達物位計適用于對液體、漿料及顆粒料的物位進行非接觸式連續測量，適用于溫度、壓力變化大；有惰性氣體及揮發存在的場合。
采用微波脈沖的測量方法，并可在工業頻率波段范圍內正常工作。波束能量較低，可安裝于各種金屬、非金屬容器或管道內，對人體及環境均無傷害。
E+H雷達物位計 - 注意事項
測量范圍從波束觸及罐低的那一點開始計算，但在特殊情況下，若罐低為凹型或錐形，當物位低于此點時無法進行測量。 
若介質為低介電常數當其處于低液位時，罐低可見，此時為保證測量精度，建議將零點定在低高度為C 的位置。 
理論上測量達到天線的位置是可能的，但是考慮到腐蝕及粘附的影響，測量范圍的終值應距離天線的至少100mm。 
對于過溢保護，可定義一段安全距離附加在盲區上。 
小測量范圍與天線有關。 
隨濃度不同，泡沫既可以吸收微波，又可以將其反射，但在一定的條件下是可以進行測量的。
E+H雷達物位計FMR 130
E+H雷達物位計FMR 131
E+H雷達物位計FMR 230
E+H雷達物位計FMR 231
E+H雷達物位計FMR 240
E+H雷達物位計FMR 244
E+H雷達物位計FMR 245
E+H雷達物位計FMR 250
E+H雷達物位計FMR 530
E+H雷達物位計FMR 531
E+H雷達物位計FMR 532
E+H雷達物位計FMR 533
E+H超聲波物位計
E+H超聲波物位計FDU 91...96
E+H超聲波物位計FMU 230/231
E+H超聲波物位計FMU 40/41/42/43
E+H超聲波物位計FMU 90
E+H超聲波物位計FTU 230/231
E+H導波雷達物位計
E+H導波雷達物位計FMP 40
E+H導波雷達物位計FMP 41C
E+H導波雷達物位計FMP 45