DIATEST內徑表式測量系統的特性是于手持,適用于大多數的孔徑測量可大尺寸測量。可以使用內徑千分尺或校對環規進行校準。量儀通過中心橋構造可以自動對正中心。
內徑表式測量系統有標準和盲孔兩種形式。
測頭結構
量儀參數
1:測頭
測頭形式:標準
2:延長桿
測量范圍:19.45-34.50mm
3:測砧
重復精度:0.001mm
線性誤差:0.006mm測量行程
測量深度:可達3m
測點半徑:8m
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DIATEST內徑表式測量系統的特性是于手持,適用于大多數的孔徑測量可大尺寸測量。可以使用內徑千分尺或校對環規進行校準。量儀通過中心橋構造可以自動對正中心。
內徑表式測量系統有標準和盲孔兩種形式。
測頭結構
量儀參數
1:測頭
測頭形式:標準
2:延長桿
測量范圍:19.45-34.50mm
3:測砧
重復精度:0.001mm
線性誤差:0.006mm測量行程
測量深度:可達3m
測點半徑:8m